品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 电气 |
1、HN7011A手持式直流电阻测试仪 1、电驰供电或者220V交流供电自适应,一次充电。 2、输出六档电流,输出10A电流,输出25V电压,并且可自动选择电流。 3、量程宽、准度高,500uΩ~50KΩ。 4、具有电阻温度换算功能,可选配无线测温模块,实时测量现场试品温度,以确保电阻折算值的准确性。允许服务器从工厂车间的控制器收集实时数据,并在标准数据库中进行检索、添加、删除和更新数据记录。这是通过支持与微软Access兼容的数据库、结构化查询语言(SQL)服务器或开放式数据库连接(ODBC)的连接来完成的。一些市场上的软件工具允许用户在IT企业系统和PLC之间建立连接,从而可以从PLC收集数据并保存在数据库中。这些服务器的配置工作量通常很小,用户可以将其配置为仅收集其流程所需的数据。这些数据库功能,提供了跟踪物料移动和生产指标的实际应用。 HN7010A变压器直流电阻测试仪 产品特点 <5mA、40mA、200mA、1A、5A、10A、20A、40A、60A、100A、600A 1Ω-200Ω (40mA档) 100mΩ-40Ω (200mA档) 5mΩ-6Ω (1A档) 0.5mΩ-200mΩ(10A档) HN7033A三通道直流电阻测试仪
温升直流电阻测试仪 绝缘油耐压测试仪
性能特点
1、整机由单片机控制,自动化程度高,操作简便。
2、仪器采用电源技术,电流档位多,测量范围宽,可根据负载选择电流,适合中小型变压器和电压互感器的直流电阻测量。半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
变压器直流电阻测试仪产品特点
1、输出电流:
2、分辨率:0.1μΩ
3、量程:100Ω-20KΩ (<5mA档)
1mΩ-2Ω (3A档)
4、准确度:±(0.2%+2字)
即使总线存在一定范围内的共模干扰,也能正确进行以上识别。测试原理框图如下图,其中框图中的U1是DUT供电电压、U2是共模电压、U3是差分电平。CANDT设备隐性输入电压限值测试原理框图CANDT设备显性输入电压限值测试原理框图注:ISO11898-2标准中,要求增大差分电压值的是电流源,由于电流源本身的输出电容较大,系统响应较慢,不适合来模拟电流源,这里使用电压源串联电阻的方式来等效电流源。CANDT测试流程隐性输入电压限值测试如测试原理框图连接状态,DUT和CANDT需正常通信;断开电压源U3,调节电压源U2,逐步将共模电压调到6.5V或-2V,在此期间DUT应能正常发送报文;调节电压源U3,逐步将差分电平调到隐性电平上限值0.5V,判断DUT是否能够正常发送报文,若能,则表示测试通过。
三通道直流电阻测试仪是用于大容量变压器绕组直流电阻三相测量的仪器。该仪器可对变压器绕组三相测试,对有载调压变压器可直接调节分接,不需要放电,测试时间为传统方法的三分之一,解决了电力变压器直流电阻测试耗时长的难题。仪器采用大屏幕液晶显示,中文菜单提示,配有打印机,且具有数据存储功能,方便数据的读取和记录,测试数据稳定,重复性好,抗干扰能力强,充放电速度快,是现场测试变压器直流电阻的选择。关于光谱分析入门光谱分析是一种测量技术;它通过测量材料与不同波长光的相互作用情况来检查材料的属性。有几种不同的交互作用可被测量,包括材料对光的吸收、反射和透射。材料的特性可通过测量有多少光能被吸收以及哪些波长的能量被吸收进行分析。吸收的波长取决于材料成分——脂肪、蛋白质和不同类型的糖分子——而吸收的强度由材料的内部成分的浓度决定。根据由材料表面层反射光的强度和波长,也可以对材料进行定性分析,而反射光的强度和波长由成分和表面本身的属性决定。
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