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三回路直流电阻测试仪 变压器综合试验台

更新时间:2021-04-24

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厂商性质:生产厂家

生产地址:山东省青岛市平度南京路27号

简要描述:
三回路直流电阻测试仪 变压器综合试验台功能简介仪器用于大容量变压器绕组直流电阻测量的仪器。该仪器可对变压器绕组测试,对有载调压变压器可直接调节分接,不需要放电,测试时间为传统方法
品牌自营品牌产地类别国产
应用领域电气

1、HN7011A手持式直流电阻测试仪
三回路直流电阻测试仪 变压器综合试验台三回路直流电阻测试仪 变压器综合试验台
性能特点

1、电驰供电或者220V交流供电自适应,一次充电。

2、输出六档电流,输出10A电流,输出25V电压,并且可自动选择电流。

3、量程宽、准度高,500uΩ~50KΩ。

4、具有电阻温度换算功能,可选配无线测温模块,实时测量现场试品温度,以确保电阻折算值的准确性。MOSI-主设备数据输出,从设备数据输入;MISO–主设备数据输入,从设备数据输出;SCLK–时钟信号,由主设备产生;SS–从设备使能信号,有主设备控制;SPI标准通讯接口SPI通讯接口的优点是传输数据快,能达到几兆到几十兆,并且没有系统开销。SPI总线的缺点也比较明显,主要是没有的流控制,也没有应答机制确认是否接收到数据。单线SPI接口还有一种另类的SPI通讯接口方式。

HN7010A变压器直流电阻测试仪
三回路直流电阻测试仪 变压器综合试验台

产品特点
    1、整机由单片机控制,自动化程度高,操作简便。
    2、仪器采用电源技术,电流档位多,测量范围宽,可根据负载选择电流,适合中小型变压器和电压互感器的直流电阻测量。,在测量电阻时,四线制测试法往往比两线制测试法结果更。FlukeBT5系列的测试表笔就是采用了四线制测试的设计,但仅凭外观判断,不少工程师会误以为这是两线制测试的表笔,今天小福就带大家来揭秘FlukeBT5系列蓄电池内阻测试仪表笔暗藏的~简单科普一下两线制测试和四线制测试的区别:两线制测试原理:如下图所示,此种连接方式即为典型的两线制测试。其中被测电阻为Rb,两根导线的馈线电阻分别为R1和R2,利用已知的I及V12,即可得到结果,但结果R=(R1+R2+Rb),包含了馈线电阻,阻值比实际偏大。
   变压器直流电阻测试仪产品特点
    1、输出电流:

<5mA、40mA、200mA、1A、5A、10A、20A、40A、60A、100A、600A
    2、分辨率:0.1μΩ
    3、量程:100Ω-20KΩ  (<5mA档)   

1Ω-200Ω (40mA档)   

100mΩ-40Ω   (200mA档)       

5mΩ-6Ω    (1A档)
          1mΩ-2Ω   (3A档)             

0.5mΩ-200mΩ(10A档)
    4、准确度:±(0.2%+2字)
   2ATPS82140功率模块的降额曲线如所示,降额曲线会随着输入与输出电压的变化而发生微小的变化,因此必须查看特定设计相对应的曲线。一般来说,随着输出电压的增大,降额情况会变得稍差一些,因为总输出功率和总功率损耗也会增大。这一点可通过效率得到平衡,因为效率会随着输出电压的增大而提高,同时有助于降低功率损耗。后,降额曲线基于一个特定的印刷电路板(PCB),而此电路板通常是功率模块的评估模块(EVM)。

HN7033A三通道直流电阻测试仪
三回路直流电阻测试仪 变压器综合试验台

   三通道直流电阻测试仪是用于大容量变压器绕组直流电阻三相测量的仪器。该仪器可对变压器绕组三相测试,对有载调压变压器可直接调节分接,不需要放电,测试时间为传统方法的三分之一,解决了电力变压器直流电阻测试耗时长的难题。仪器采用大屏幕液晶显示,中文菜单提示,配有打印机,且具有数据存储功能,方便数据的读取和记录,测试数据稳定,重复性好,抗干扰能力强,充放电速度快,是现场测试变压器直流电阻的选择。半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。

三回路直流电阻测试仪 变压器综合试验台其二,可以将隔离电源的输入地与输出地连接在一起变成非隔离,由于都是等电位,即不会出现打火拉弧现象。通过以上两种方法,均可以确定是否是由于隔离电源输入与输出之间的走线间距问题导致打火拉弧。整改过程:通过分析确定是隔离电源输入与输出之间走线间距不足,共模浪涌导致两端高压差问题。为此将打火处的走线断开,此处便不会再出现打火。同时如果其他地方有同样的问题,在断开前面的打火处后,则共模路径为转移到下一个间距不够的地方,因此需要将这些隔离间距都断开,并满足共模电压间距要求。

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