三相大电流试验装置

1、HNDL系列大电流发生器三相大电流试验装置
    

大电流试验设备按照使用一般分为以下几种：

1、单相大电流发生器

2、三相大电流发生器

3、智能型全自动大电流发生器

4、温升大电流发生器  温升试验设备  JP柜温升试验装置

5、直流大电流发生器

6、熔断器大电流试验装置
 CAN总线作为应用非常广泛的现场总线，保证CAN总线一致性非常重要，DLC作为CAN帧的一部分，它的正确与否直接影响到总线通信。那么DLC代表什么?它的功能是什么?如何测试验证其正确性?CAN总线是ISO标准化的串行通信协议。在汽车产业中，出于对安全性、舒适性、方便性、低公害、低成本的要求，各样的电子控制系统被开发了出来。由于这些系统之间通信所用的数据类型及对可靠性的要求不尽相同，由多条总线构成的情况很多，线束的数量也随之增加。

1）基本型 可采用串并联，主要于电力系统的一次母线保护和电流互感器变比等试验，也可以对电流继电器及开关行程时间、过流速断、传动等试验进行整定。

2）集成型 集电流，时间，变比，极性于一体 为供电局，电厂现场测试。

3）瞬冲型  无需预调。（熔断器测试仪）电流直接输出额定值。对负载自适应。用于熔断器测试。

4）温升型  用于开关柜，母线槽等电器的温升试验 但是由于这种探头的带宽只能做到6MHz左右，所以随着开关电源频率的提升，这种探头便不再适合使用。目前常用的电源测量探头是10:1无源探头、100:1无源探头、高压差分探头。探头的选择上要考虑电压范围，被测电压不要超出探头允许的范围。比如说一般的10:1的无源探头，其低频耐压值是300VRMS，且随着频率的升高而降低。如所示。使用之前要测量信号的电压范围在此范围内。否者将无法进行正确的测量。10:1无源探头输入额定电压曲线除此之外，还需要考虑探头衰减比对底噪的放大，从而判断信号的真实有效部分。

功能特点：

1 采用进口0.23铁芯，电效率高铁心无气隙，叠装系数可高达95％以上，铁心磁导率可取1.5～1.8T（叠片式铁心只能取1.2～1.4T），电效率高达95％以上，空载电流只有叠片式的10％。

2  采用环形设计。体积小重量轻，环形变压器比叠片式变压器重量可以减轻一半.

　3 磁干扰较小环形变压器铁心没有气隙，绕组均匀地绕在环形的铁心上，这种结构导致了漏磁小，电磁辐射也小，无需另加屏蔽都可以用到高灵敏度高准度的电子设备上采用  也就是说，只要振铃、过冲和地电平反弹不导致逻辑跳变，那么这些模拟特点对MSO就不是问题。与逻辑分析仪一样，MSO使用门限电压，确定信号是逻辑值高还是逻辑值低。MSO4系列可以为每条通道立设置门限，适合调试带有混合逻辑家族的电路。MSO4在其中一个数字探头适配夹上测量五个逻辑信号，它同时测量三个TTL(晶体管-晶体管逻辑)信号和两个LVPECL(低压正发射器-耦合逻辑)信号。MSO2和MSO3系列则为每个探头适配夹设置门限(一组8条通道)，因此TTL信号将位于个适配夹上，而LVPECL信号则位于第二个适配夹上。

4  采用0.2级数字式真有效值电流表显示，准度高。而且无需外附标准CT及其他附件，简洁直观。  

5 采用0.2S级高准度电流互感器，保证电流信号的线性度和高准度输出.

6 内置高准度毫秒计。满足时间高准度测试的需要。           

一直以来，工程师关注的一个重点就是波形的稳定性分析。然而在对波形的长时间监控中，突发的数据干扰往往难以捕捉定位，就成为了许多工程师的心头之患。本文介绍几种实用分析功能，协助工程师们快速定位异常数据的位置。查看波形是电子测量仪器常用的一个功能。为了确保波形是否稳定运行，工程师们往往需要对观测信号进行长时间的采样检测，本文介绍ZDL6示波记录仪常用的3种波形异常检测功能，可以通过这3种功能迅速定位到异常数据的发生位置，大大提高测试效率。技术参数：                        

输入电源：AC 220V /380V  50HZ             

电流输出：0－ 1000A        准度：0.5或0.2  分辨率：0.01A

电流输出：1000－ 5000A     准度：0.5或0.2  分辨率：0.1A

电流输出：5000－ 10000A    准度：0.5 或0.2 分辨率：1A

电流输出：10000－50000A    准度：0.5 或0.2 分辨率：1A

输出端开口电压：≥6V

时间测试：0.001S－9999.999S  分辨率：0.001S

三相大电流试验装置半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。低时延是5G区别于前几代移动通信的主要特征，但也给承载网尤其是5G前传承载网带来了挑战。uRLLC业务要求时延小于1ms，分配给承载网设备的时延非常苛刻，传统的承载设备几十微秒的时延难以满足要求，为5G承载带来了挑战。另一方面，5G业务的带宽需求也有着大幅的增长，在C-RAN架构下，一个典型的5G基站的前传带宽达到了3-6路25G，传统的光纤直驱难以满足需求。作为综合通信解决方案提供商，中兴通讯在低时延高可靠性传输方面有着深厚的技术积累。