品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 电气 |
1、HNDL系列大电流发生器智能型大电流发生器用途标准
大电流试验设备按照使用一般分为以下几种:
1、单相大电流发生器
2、三相大电流发生器
3、智能型全自动大电流发生器
4、温升大电流发生器 温升试验设备 JP柜温升试验装置
5、直流大电流发生器
6、熔断器大电流试验装置
TestCenter开发平台为诊断程序的开发提供了支持,包括图形化的故障建模工具、IEEE1232标准的诊断推理机、故障诊断程序开发等。IEEE1232标准为故障树分析在内的几种故障诊断方法建立了相应的诊断信息模型,并了两种格式来描述这些信息模型,使之成为可交换文件。标准还定义了符合IEEE1232标准的诊断推理机。交换文件由推理机解析,对诊断起指导作用。IEEE1232推理机通过服务接口与测试系统交互。
1)基本型 可采用串并联,主要于电力系统的一次母线保护和电流互感器变比等试验,也可以对电流继电器及开关行程时间、过流速断、传动等试验进行整定。
2)集成型 集电流,时间,变比,极性于一体 为供电局,电厂现场测试。
3)瞬冲型 无需预调。(熔断器测试仪)电流直接输出额定值。对负载自适应。用于熔断器测试。
4)温升型 用于开关柜,母线槽等电器的温升试验 TS-96e-5G的设备接口板(DIB)/接收器接口几乎兼容任何设备处理器。:TS-96e-5G界面板对于量产测试,系统配置EPSONNS-84设备,该产品具有高稳定性,易操作维护等特点,可以进行多种封转形式芯片的测试工作。:EPSONNS-84软件部分ATE中软件的执行环境为ATEasy,可以轻松完成测试程序的编写和执行管理工作;同时配有ICEasy半导体测试软件包;DIOEasy-Fit:pattern转换和导入工具;GtDio6xEasy:pattern编辑工具;VNA,VSA测试套件:可以进行频谱,时序显示及统计,数字调制分析等工作。
功能特点:
1 采用进口0.23铁芯,电效率高铁心无气隙,叠装系数可高达95%以上,铁心磁导率可取1.5~1.8T(叠片式铁心只能取1.2~1.4T),电效率高达95%以上,空载电流只有叠片式的10%。
2 采用环形设计。体积小重量轻,环形变压器比叠片式变压器重量可以减轻一半.
3 磁干扰较小环形变压器铁心没有气隙,绕组均匀地绕在环形的铁心上,这种结构导致了漏磁小,电磁辐射也小,无需另加屏蔽都可以用到高灵敏度高准度的电子设备上采用 CAN的协议结构中物理层、数据链路层已经由硬件实现,目前都已经标准化,有现成的部件(CAN控制器和收发器)选择。因此在单片机上加上CAN控制器、收发器,软件实现相应的驱动程序就基本实现了CAN的通讯功能。LIN(LocalInterconnectNetwork)总线:其易于实施、成本低、可应用在对实时性要求不高的场合。车灯、车门、座椅和雨刷之类的控制是其应用领域,它作为CAN网络的有效补偿,的优势在于成本低。
4 采用0.2级数字式真有效值电流表显示,准度高。而且无需外附标准CT及其他附件,简洁直观。
5 采用0.2S级高准度电流互感器,保证电流信号的线性度和高准度输出.
6 内置高准度毫秒计。满足时间高准度测试的需要。
Ceyear451信号/频谱分析仪提供了实时频谱分析功能,在干扰环境下进行频谱测试或在正常工作状态下查找干扰是实时频谱分析功能的主要优势,同时还具有高截获概率以及快速准确的频谱分析测量能力。实时频谱分析功能广泛应用于瞬态、短时、偶发信号的测量与分析,测量显示界面如所示。实时频谱分析功能界面显示基于频谱统计的数字荧光频谱图是一个二维的直方图,它采用位图图像方式进行显示,每一个位图像素代表的是信号频率和幅度联合的统计信息,颜色的深浅(暖色调和冷色调)代表统计次数的高低,数字荧光视图如所示。技术参数:
输入电源:AC 220V /380V 50HZ
电流输出:0- 1000A 准度:0.5或0.2 分辨率:0.01A
电流输出:1000- 5000A 准度:0.5或0.2 分辨率:0.1A
电流输出:5000- 10000A 准度:0.5 或0.2 分辨率:1A
电流输出:10000-50000A 准度:0.5 或0.2 分辨率:1A
输出端开口电压:≥6V
时间测试:0.001S-9999.999S 分辨率:0.001S
智能型大电流发生器用途标准光伏组件漏电流产生示意PID形成的原因有很多,外部可能由于潮湿的环境,还有组件表面被导电性、酸性、碱性、以及带有离子的物体污染,也可能发生衰减现象,导致漏电流的产生。系统方面,逆变器接地方式和组件在阵列中的位置,决定了电池片和组件受到正偏压或者负偏压。电站实际运行情况和研究结果表明:如果整列中间一块组件和逆变器负极输出端之间的所有组件处于负偏压下,则越靠近输出端组件的PID现象越明显。而在中间一块组件和逆变器正极输出端中间的所有组件处于正偏压下,PID现象不明显。了解你的被测试装置被测试装置(DUT)的性能会显著影响射频测量。,温度会影响稳定性,并因此与可重复性密切相关。许多射频器件和射频仪器没有对温度变化的内部补偿。它们必须在稳定的温度下工作以使温度漂移引起的测量误差。当前的环境(,空调循环的开启与关闭,覆盖物和面板的移除或增加,处于户外或室内,以及是否接近热源)会有很大影响。需要注意适当的预热时间、被测试装置的冷却需求和周边的环境以确保温度稳定性。
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